Thetametrisis

Thetametrisis

Греция

www.thetametrisis.com

Компания ThetaMetrisis основана в декабре 2008 года в г. Атенс, Греция как спин-офф Института Микроэлектроники, Национального центра научных исследований «Демокрит». Основная технология которая используется компанией ThetaMetrisis в своем оборудования это спектроскопическая рефлектометрия белого света, которая позволяет выполнять точные и быстрые измерения толщины и индекса отражения тонких и толстых пленок в очень широком диапазоне от нескольких ангстрем до миллиметров.

Оборудование

FR-pOrtable

Портативный USB-прибор для определения характеристик пленки

Thetametrisis

FR-pOrtable – уникальный и компактный прибор для достоверного и точного нераз-рушающего определения характеристик прозрачных и полупрозрачных одиночных или многослойных пленок.

FR-pOrtable позволяет проводить измерения параметров отражающей и пропуска-ющей способности в спектральном диапа-зоне от 380 до 1020 нм.

FR-pRo

Модульная система для определения характеристик пленки

Thetametrisis

FR-pRo – модульная и расширяемая платформа для определения характеристик пленок толщиной от 1 нм до 1 мм. Системы FR-pRo адаптируются к потреб-ностям заказчиков и могут использоваться для решения широкого спектра задач:

Измерения коэффициентов поглощения, пропускания, отражения, определения характеристик пленок в контролируемых температурных или даже жидкостных условиях.

FR-uProbe

Система для определения характеристик микронных пленок

Thetametrisis

FR-uProbe – система, позволяющая определять характеристики покрытий при размере пятна в несколько микрометров. Ее можно применять при работе с микроструктурированными поверхностями, образцами с неров-ным покрытием и высоким уровнем рассеивания, и т.п.

С FR-uProbe определить локальную толщину пленки, оптические постоянные, отражающие, пропускающие и поглощающие параметры в УФ, видимом и около инфракрасном спектре можно буквально за один клик.

FR-Scanner

Автоматическая сверхбыстрая и точная система для картирования пластин

Thetametrisis

FR-Scanner – компактный настольный инструмент для автоматического определения характеристик пленок и покрытий пластин.

Идеальное решение для быстрого и точно-го определения свойств пленок: толщины, коэффициента преломления, однородности покрытия, цвета и пр.

Вакуумный предметный столик позволяет работать с пластинами любого диаметра и формы.